非均匀缺陷环对微波左手材料的影响.pdf

以金属铜六边形开口谐振环(SRRs)与金属铜线的组合为结构单元,研究了三维左手材料中的缺陷效应.利用电路板刻蚀技术制备了左手材料样品,采用波导法测量了SRRs构成的点缺陷和线缺陷对左手材料X波段(8-12GHz)微波透射行为的影响.实验结果表明,引入不同尺寸SRRs构成的点缺陷,材料谐振峰强度下降,最多达6dB,相当于原来的18.6%,谐振频率移动,通频带宽在630-720 MHz范围变化;引入不同尺寸SRRs构成三种取向的线缺陷时,材料谐振峰强度下降,最多达11dB,相当于原来的34.1%,谐振频率红移、蓝移的情况都存在,通频带宽在420-870MHz范围变化,线缺陷效应明显大于点缺陷的情形.这是由于缺陷的存在破坏了材料的空间周期性,从而引起左手材料与电磁波作用行为的变化.