脉冲测试器件I-V曲线的经典文章: Performing and Analyzing Pulsed Current-Voltage Measurements.pdf

脉冲测试器件I-V曲线的经典文章，文章研究了仪器和夹具对脉宽的影响，以及脉宽对器件I-V特性的影响。通俗易懂，研究的内容也很重要，我读了很多文献才发现这篇，推荐。
This article describes the methods used for pulsed measurements that reduce stress on power devices during characterization

:31bb谢谢分享了

相控阵有源的，最后必须考虑脉冲测试，否则不可行啊