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晶圆级射频测试

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发表在  2009-11-26 18:58:45  | 显示全部楼层 | 阅读模式

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¦Z¦ Probe晶圆上射频探针采用了1MX技术,通过最小化信号损耗、反射和串扰,以及扩展频率范围,它提高了探针的高频性能。当表征纳米级射频和微波器件时,优化的设计为测试工程师提供了更高的测量精度。此外,¦Z¦ Probe强大的设计还能确保其寿命长达100万次。
SUSS MicroTec Test Systems
www.suss.com

                               
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发表于 2010-4-22 22:17:58  | 显示全部楼层
有单个裸芯片测试资料么?小弟急需啊!!
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