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三维集成电路中高密度金属-金属间互连键合 [复制链接]

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发表于 2012-2-7 07:31:10 |显示全部楼层
In this paper, we report on the fabrication and bonding of
large area array test devices with high yield Cu–Cu and Cu/Sn–
Cu bonding processes. Bonding was performed without the use
of resins or fixing agents.
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发表于 2012-2-7 16:09:12 |显示全部楼层
好资料,顶起!
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发表于 2012-2-7 16:45:27 |显示全部楼层
工艺方面的资料不好找啊
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