电子设计创新大会(EDI CON CHINA)邀请专家在全体会议上发表主旨演讲

2019-3-4 09:26| 发布者: 00d44| 查看: 285| 评论: 0

摘要: 将于2019年4月1日至3日在北京国家会议中心(CNCC)举办的电子设计创新大会(EDI CON CHINA)邀请了3位专家在10点开始的开幕全体会议上发表主旨演讲。3位专家分别是:Steve Sandler,世界领先的电源完整性专家、Picot ...

将于201941日至3日在北京国家会议中心(CNCC)举办的电子设计创新大会(EDI CON CHINA)邀请了3位专家在10点开始的开幕全体会议上发表主旨演讲。3位专家分别是:Steve Sandler,世界领先的电源完整性专家、Picotest创始人兼CTOKailash Narayanan,是德科技(大会首席赞助商)全球副总裁;Alexander Pabst,罗德与施瓦茨(钻石赞助商)副总裁。

 

Sandler的演讲题目是“射频、微波和高速电路中的功率相关因素”。本演讲着眼于电源对射频、微波和高速数字系统的多种影响,解释了我最喜欢的仿真、测量和排除这些复杂问题的技术之一。

 

Narayanan的演讲题目是“用于网络设备制造、芯片组和设备的5G测试和测量技术”。随着3GPP15版的发布,无线通信行业已开始大规模生产5G设备、器件并开始初期的部署。本演讲将探讨未来的主要市场趋势和挑战,并概述测试和测量解决方案。

 

Pabst的演讲题目是“5G新无线电测试和测量挑战以及应对方法”。即第五代新无线电通信系统即将通过将所有人和物都纳入全球通信网络而引发下一次革命。对容量的不断增长的需求要求在已有的频谱以及毫米波的范围内部署新频谱。本演讲将讨论5G NR OTA挑战,并概述辐射测试环境的解决方案,以优化技术的可行性、测试次数/周期和投资/维护需求。

 

电子设计创新大会(EDI CON CHINA)包含全体会议主旨演讲、技术报告会、赞助商研习会、专家论坛,涵盖的专题包括:5G/先进通信、电源完整性、仿真与建模、测试与测量、毫米波、放大器设计、低功耗/物联网、前端设计、射频/微波设计和信号完整性。会议还包括是德科技教育论坛的一系列讲座,以及在展厅有行业领先参展商的最新创新成果展示。参会者可以在现场与其他工程师建立联系、与参展商会面、在Frequency Matters Theatre听应用讲座、参与抽奖、享用茶点。

 

所有会议都将使用中文或者从英文同声传译为中文。

 

EDI CON 电子创新大会网站:

http://www.mwjournalchina.com/edicon/

 

会议议程:

http://www.mwjournalchina.com/edicon/techprogram.asp

 

立刻使用VIPEDIC19MWT 注册可免费参会:

https://bj.infosalons.com.cn/reg/EDI19/conferencecn/start.aspx

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